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雙束掃描電子顯微鏡（DB-FIB）是將聚焦離子束和掃描電子束集成在一臺(tái)顯微鏡上，再加裝氣體注入系統(tǒng)（GIS）和納米機(jī)械手等配件，從而實(shí)現(xiàn)刻蝕、材料沉積、微納加工等許多功能的儀器。廣電計(jì)量能提供一站式雙束掃描電子顯微鏡檢測(cè),材料微觀分析服務(wù)。

電子元器件失效分析經(jīng)常用到的檢查分析方法簡(jiǎn)單可以歸類(lèi)為無(wú)損分析、有損分析。有損分析就是對(duì)器件進(jìn)行各種微觀解剖分析，其首要要求就是在避免人為損傷的前提下，展現(xiàn)內(nèi)部缺陷形貌。離子研磨（CP）測(cè)試是切片制樣技術(shù)常用到的輔助技術(shù)。廣電計(jì)量提供離子研磨測(cè)試,材料CP檢測(cè)服務(wù)。

材料及其制品都是一在一定溫度環(huán)境下使用的，在使用過(guò)程中，將對(duì)不同的溫度做出反應(yīng)，表現(xiàn)出不同的熱物理性能，即為材料的熱血性能。材料的熱學(xué)性能主要包括熱容、熱膨脹、熱傳導(dǎo)、熱穩(wěn)定性等。廣電計(jì)量可針對(duì)性研究材料樣品性質(zhì)與溫度間關(guān)系，提供材料?致性評(píng)價(jià)及熱力學(xué)分析服務(wù)。

廣電計(jì)量腐蝕機(jī)理與疲勞測(cè)試,元件材料檢測(cè)為軌道交通、電廠、鋼鐵設(shè)備生產(chǎn)廠、經(jīng)銷(xiāo)商或代理商提供交流阻抗，極化曲線，電化學(xué)噪?，疲勞試驗(yàn)。

金屬材料的失效形式及失效原因密切相關(guān)，失效形式是材料失效過(guò)程的表觀特征，可以通過(guò)適當(dāng)?shù)姆绞竭M(jìn)行觀察。而失效原因是導(dǎo)致構(gòu)件失效的物理化學(xué)機(jī)制，需要通過(guò)失效過(guò)程調(diào)研研究及對(duì)失效件的宏觀、微觀分析來(lái)診斷和論證。廣電計(jì)量金屬與高分子材料失效分析可以針對(duì)客戶(hù)的產(chǎn)品的類(lèi)型，生產(chǎn)工藝和失效現(xiàn)象提供定制化服務(wù)。

近年來(lái)，我國(guó)交通運(yùn)輸事業(yè)得到了飛速的發(fā)展，但隨著車(chē)輛運(yùn)行速度的提高，運(yùn)行環(huán)境差異的增大，由此帶來(lái)的動(dòng)車(chē)車(chē)輛疲勞損傷的問(wèn)題日益嚴(yán)重。另外，目前我國(guó)的動(dòng)車(chē)車(chē)輛的檢修實(shí)行定期檢修機(jī)制。廣電計(jì)量動(dòng)車(chē)壽命評(píng)估與可靠性提升服務(wù)提供動(dòng)車(chē)車(chē)輛零部件的疲勞壽命進(jìn)行預(yù)測(cè)，對(duì)提高動(dòng)車(chē)的安全性和可靠性具有重要的意義，同時(shí)還可以為動(dòng)車(chē)檢修備件計(jì)劃提供理論依據(jù)。

為全面分析和評(píng)價(jià)動(dòng)車(chē)組板卡的可靠性,廣電計(jì)量軌道板卡壽命評(píng)估與可靠性提升通過(guò)板卡的X-ray檢測(cè)、電性能測(cè)試及壽命特征分析、壽命及加速壽命試驗(yàn)、失效分析等方法對(duì)板卡的輸出性能衰減可靠性進(jìn)行預(yù)估.

廣電計(jì)量軌道交通電子元器件失效分析是指借助各種測(cè)試分析技術(shù)和方法確認(rèn)電子元器件的失效現(xiàn)象，分辨其失效模式和失效機(jī)理，確認(rèn)失效根因，提出設(shè)計(jì)和工藝改進(jìn)建議，防止失效的重復(fù)出現(xiàn)，提高元器件可靠性的有效手段。